技術(shù)文章您當前的位置：首頁 > 技術(shù)文章 > 電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

日期：2017-04-17瀏覽：6169次

近年來國內(nèi)外電子整機的失效統(tǒng)計顯示，元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下，引起人們普遍關(guān)注。元器件本身及使用的可靠性提高對于整機可靠性的提高具有關(guān)鍵的作用。

行業(yè)	檢測對象	用途	工藝	解決方案
電子部品	印制電路板	生產(chǎn)	絕緣層涂料硬化干燥	高溫試驗箱
			層間接合硬化	真空高溫試驗箱
			脫泡	250℃真空高溫箱
		評價	熱循環(huán)加速試驗	冷熱沖擊試驗箱＋導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
			溫濕度偏壓電壓加速試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			高溫高壓材料耐濕試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）＋絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
	LED	生產(chǎn)/檢查	脫泡試驗	真空高溫試驗箱
		評價	高溫試驗	高溫試驗箱
			低溫放置試驗	中型高低溫（濕熱）試驗箱
			溫度循環(huán)試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
	磁性材料	生產(chǎn)	干燥	高溫試驗箱
		評價		高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
		評價		高壓加速老化試驗箱

信息通訊

信息通訊設(shè)備使用范圍從室內(nèi)到野外，從熱帶到寒帶，不同地方經(jīng)受這多樣的環(huán)境條件。同時伴隨市場的小型化、便攜性要求的日益提高，裝置密度也不斷增加。因此，元器件選擇、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品定型、制造工藝及失效分析都對可靠性提出了嚴格的要求。

行業(yè)	檢測對象	用途	工藝	解決方案
IT通訊	傳輸交換設(shè)備	檢查	冷熱沖擊試驗	冷熱沖擊試驗箱
			高溫放置試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
			老化試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
		評價	熱循環(huán)試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
			lcordia試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
				冷熱沖擊試驗箱
			絕緣評價	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
	移動通信終端	檢查	成品動作試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
		檢查		高低溫(濕度）試驗室
		評價	溫濕度試驗	小型環(huán)境試驗箱
				高壓加速老化試驗箱
			絕緣評價	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
	計算機	檢查	冷熱沖擊試驗	冷熱沖擊試驗箱
			高溫放置試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
			老化試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
		評價	成品或零部件的綜合評價	溫度、濕度、振動三綜合試驗箱
			絕緣評價	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)
	計算機外存儲設(shè)備	檢查	元器件篩選	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
		檢查	成品老化處理	高低溫(濕度）試驗室
		評價	保證溫濕度范圍內(nèi)動作試驗	高低溫（濕熱）試驗箱(J系列）
				冷熱沖擊試驗箱
			絕緣評價	絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)
			導(dǎo)通評價	導(dǎo)通電阻評估系統(tǒng)

上一篇：汽車電子器件，安全裝置環(huán)境試驗解決方案/成功案例

下一篇：IEC60068-2/GB2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗標準

技術(shù)文章您當前的位置：首頁 > 技術(shù)文章 > 電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

產(chǎn)品分類

聯(lián)系我們

技術(shù)文章您當前的位置：首頁 > 技術(shù)文章 > 電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

產(chǎn)品分類

聯(lián)系我們

技術(shù)文章您當前的位置：首頁 > 技術(shù)文章 > 電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例

電路板，LED，磁性材料環(huán)境試驗解決方案/成功案例