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靜電放電模擬器概述
日期：2013-01-29瀏覽：3090次
二極管、三極管和集成電路等電子元器件靜電放電敏感度要用先進(jìn)水平的靜電放電模擬器，它是是專(zhuān)門(mén)為測(cè)量元器件的靜電放電模擬器，它輸出電壓范圍寬（0～±20kV），精度高（1%）,分辨率高（10V）,其輸出電壓和波形符合美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD、國(guó)家軍標(biāo)GJB、ESD協(xié)會(huì)、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)的 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 靜電放電敏感度分類(lèi)標(biāo)準(zhǔn)要求、半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 靜電放電敏感度分類(lèi)
靜電放電模擬器，能測(cè)試從二極管、三極管到各種IC的靜電放電敏感度，核心技術(shù)和器件從美國(guó)引進(jìn)，使您不但能得到技術(shù)水平優(yōu)于或達(dá)到先進(jìn)水平的靜電放電模擬器，還能得到美國(guó)國(guó)家NARTE認(rèn)證ESD資深工程師提供的免費(fèi)技術(shù)咨詢(xún)和,是國(guó)內(nèi)外目前性能價(jià)格比和*的靜電放電模擬器。
產(chǎn)品分類(lèi)
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線(xiàn)協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 美國(guó)BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- SHIMAZU島津
- 德維創(chuàng)DEWETRON
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