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上海堅融實業(yè)脈沖特性分析降低納米材料的焦耳熱效應
日期：2014-06-13瀏覽：3238次
根據(jù)《納米快報》(Nano Letters)，《納米技術》(Nanotechnology)，《IEEE 納米技術匯刊》(IEEE Transactions on Nanotechnology)，《先進材料》(Advanced Materials)，《自然》(Nature)，《應用物理快報》(Applied Physics Letters)相關文獻資料，以及納米工程功能材料研究中心(FENA)，西部納米電子研究所 (WIN)，加州納米系統(tǒng)研究院的研究成果案例，上海堅融JETYOO聯(lián)合美國吉時利KEITHLEY，開發(fā)了脈沖特性分析降低納米線、納米管、納米材料和納米電子的焦耳熱效應的具體測量應用。
可以使您的產(chǎn)品：
脈沖測試zui小化焦耳熱效應；
符合IEEE P1650-2005 標準：“測量碳納米管電氣特性的 IEEE 標準測試方法”。
高速和簡潔的測試方案能讓生物學家、化學家、物理學家或其他研究人員簡便地進行復雜測量。
使用到的儀器設備有：
4200-SCS半導體特性分析系統(tǒng)
數(shù)字源表
2420 型 3A 源表
2430 型脈沖源表
2601 型高吞吐量源表
2636 型雙通道低電流和脈沖輸出源表
6430亞fA程控源表
電流源/納伏表
6220直流電流源
6221交流和直流電流源
2182A納伏表
靜電計/皮安表
6514靜電計
6517A靜電計/高阻表
6485皮安表
6487皮安表/電壓源
脈沖發(fā)生器
3401單通道脈沖/碼型發(fā)生器
3402雙通道脈沖/碼型發(fā)生器
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環(huán)境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 博勒飛Brookfield
- 賓德BINDER試驗箱
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 美國BK PRECISION
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
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- SHIMAZU島津
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