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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-11

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

產(chǎn)品特性Product characteristics

專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent【現(xiàn)是德KEYSIGHT】品牌技術(shù)經(jīng)理-堅(jiān)JET與吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn)泰克Tektronix】品牌產(chǎn)品經(jīng)理-融YOO共同創(chuàng)辦，專注工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域十六年，志在破舊立新！*進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供較有競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。堅(jiān)融實(shí)業(yè)——一家致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修計(jì)量全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀是新穎的曲線圖示儀, 可以支持大峰值從3,000V/400A至15,000V/8,000A. CS系列不僅適用于高電壓或高電流功率器件 (IGBT 和功率 MOSFET) 的特性測(cè)試, 還可用于各種半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試, 及電力電子器件 (如 SiC 和 GaN) 的電容測(cè)試 (選件 CS-603A/CS-605A).  測(cè)試結(jié)果可以存儲(chǔ)在內(nèi)存中, 或通過(guò)標(biāo)配的USB 端口和 LAN 接口被發(fā)送到 PC.

日本巖崎IWATSU CS-5400半導(dǎo)體曲線圖示儀產(chǎn)品應(yīng)用

適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導(dǎo)體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測(cè)試

電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測(cè)量 (選件CS-603A/CS-605A)

可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)

靜態(tài)特性測(cè)試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)

傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測(cè)試功能

器件測(cè)試

可以在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多個(gè)器件的測(cè)試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來(lái)輸入樣本名稱, 以重復(fù)相同的測(cè)試.  在既定條件下判斷 (通過(guò)/失敗) 將顯示每個(gè)測(cè)試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動(dòng)存儲(chǔ)(附圖)

半導(dǎo)體溫度特性測(cè)試評(píng)估

CS-810控制加熱板. 儘管測(cè)試需要很長(zhǎng)的時(shí)間 (如溫度測(cè)試), 仍可自動(dòng)執(zhí)行 (附圖)

痠勞測(cè)試

在痠勞測(cè)試中可以包含各種各樣的參數(shù). CS-810 軟件支持長(zhǎng)時(shí)間可靠性測(cè)試.  通過(guò)曲線圖示CS-810監(jiān)察電壓和電流, 那些曲線的區(qū)別能被記錄下來(lái).  痠勞測(cè)試可以實(shí)現(xiàn)多種參數(shù)的自動(dòng)測(cè)量.  偏置會(huì)停止超越電流或電壓的限制值并以此設(shè)定為下限和上限的極限值.  CS-810 軟件測(cè)量 Ic 或 Vce (區(qū)間: 10s 至 2h) 和保持一定的電壓或電流 (10s 至 1,000h) (附圖)

與探針臺(tái)共用時(shí), 可實(shí)現(xiàn)晶圓測(cè)試 (附圖)

產(chǎn)品功能

電子電力元件或器件測(cè)試波形特性的功能顯示 (附圖)

配備選件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實(shí)現(xiàn)電子電力器件如SiC和GaN等的電容測(cè)試

在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動(dòng)與掃描電容測(cè)試

曲線圖示儀的測(cè)試適配器可用于各種器件封裝類型

測(cè)試參數(shù)包括:

Cies, Ciss (輸入電容)

Coss (輸出電容)

Cres, Crss (反向傳輸電容)

Ct (端子間的電容)

Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計(jì)算)

Rg (柵極電阻)

可實(shí)行晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)

具有外部聯(lián)鎖功能的恒溫箱高低溫試驗(yàn)

與電腦全自動(dòng)化結(jié)合

CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件 (選件)

通過(guò)對(duì)主機(jī)的遠(yuǎn)程控制, 可實(shí)現(xiàn)各種自動(dòng)測(cè)試的軟件. 傳統(tǒng)上通過(guò)曲線圖示儀難以進(jìn)行的疲勞測(cè)試. 加熱實(shí)驗(yàn)或同時(shí)控制恒溫箱進(jìn)行多溫度點(diǎn)實(shí)驗(yàn)都可使用本軟件來(lái)實(shí)現(xiàn) (附圖)

USB 存儲(chǔ)器

圖像: 數(shù)據(jù)和設(shè)置條件

格式: TIFF, BMP, PNG保存格式 (背景可選擇為黑色或白色, 彩色或單色)

波形數(shù)據(jù): 文本文件和二進(jìn)制文件

遠(yuǎn)程控制工具

如因保密需要而冇法使用USB存儲(chǔ)器時(shí), 可以通過(guò)安裝在PC的遠(yuǎn)程控制工具進(jìn)行數(shù)據(jù)存取

以太網(wǎng)

標(biāo)準(zhǔn)配置 (主機(jī)背面)

測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來(lái)設(shè)置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向.  同時(shí)具有客戶功能, 可以僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描, 特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試(附圖)

限制掃描功能 (選件CS-800)

在一般的掃描測(cè)試中加入電流, 電壓的限制功能. 限制在被測(cè)模塊上印加的電流值, 電壓值以起到保護(hù)作用. 也可在達(dá)到目標(biāo)值時(shí)停止掃描(附圖)

Vth-hFE自動(dòng)檢測(cè)功能(選件CS-800)

可在條件設(shè)?後進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試, 避免了之前的繁雜操作

Constant 功能 (選件CS-800)

可印加規(guī)定電壓或規(guī)定電流. 與CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件配合使用時(shí), 可使用半導(dǎo)體曲線圖示儀進(jìn)行自動(dòng)疲勞測(cè)試

溫度特性測(cè)試 (選件CS-810)

通過(guò)CS-810半導(dǎo)體測(cè)試軟件對(duì)曲線圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板的自動(dòng)控制, 實(shí)現(xiàn)溫度特性評(píng)估試驗(yàn)的全自動(dòng)測(cè)試 (附圖)

CS-810是一個(gè)可安裝于電腦中的選件應(yīng)用軟件. 通過(guò)以太網(wǎng)控制圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板等設(shè)備, 經(jīng)簡(jiǎn)單的設(shè)置後就可將一直以來(lái)只能手動(dòng)測(cè)試的曲線圖示儀實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試, 大幅地提升工作效率

全自動(dòng)化測(cè)試:測(cè)試→記錄→判斷.  提高品管和品檢的工作效率 (附圖)

模塊或數(shù)個(gè)芯片, 器件自動(dòng)切換測(cè)試

可自動(dòng)控制加熱板, 全自動(dòng)進(jìn)行六合一模塊的溫度特性測(cè)量

測(cè)試結(jié)果窗口 (附圖)

波形比較功能:  可將產(chǎn)品開發(fā)時(shí)的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時(shí)測(cè)得的多個(gè)波形進(jìn)行同屏比較, 或通過(guò)波形比較來(lái)判斷是否合格 (附圖)

產(chǎn)品特點(diǎn)

顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏

正確測(cè)試半導(dǎo)體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管解決方案

采用電路圖模式顯示內(nèi)部的配線狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測(cè)試時(shí)的誤操作(附圖)

WAVE模式: 能確認(rèn)實(shí)際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)

可以像示波器一樣通過(guò)觀察模塊上實(shí)際印加電流和電壓的波形來(lái)確定脈寬和實(shí)際測(cè)試點(diǎn) (Timing)

可通關(guān)確認(rèn)實(shí)際波形, 適時(shí)調(diào)整脈寬和測(cè)試點(diǎn)

避免示波器的探棒影響, 可確認(rèn)實(shí)時(shí)的異常信號(hào)

可非常容易地確認(rèn)模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況

可實(shí)現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測(cè)試 (選件CS-603A/CS-605A)

可實(shí)現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)

標(biāo)配LAN和USB接口

標(biāo)準(zhǔn)配件

CS-301: CS-3100標(biāo)配測(cè)試臺(tái)S

CS-302: CS-3200和CS-3300標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M

CS-303: CS-5100, CS-5200和CS-5300標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M

CS-304: CS-5400標(biāo)配測(cè)試臺(tái)M

測(cè)試臺(tái)M專用快裝面板: CS系列標(biāo)配快裝面板 (除CS-3100外)

CS-500: CS-3100, CS-3200, CS-3300, CS-5100, CS-5200, CS-5300, CS-5400標(biāo)配測(cè)試端口轉(zhuǎn)接夾具

CS-005: CS系列標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)線套裝(除CS-3100外)

CS-006: CS-5400標(biāo)配20cm高電流電纜 (2條)

CS-007: CS-10400, CS-10800, CS-12800, CS-15800標(biāo)配30cm 高電流電纜 (2條)

LAN接口

USB接口

操作手冊(cè)

電源線

產(chǎn)品選項(xiàng)

CS-305: 測(cè)試臺(tái)L, 尺寸:  630mm (寬) x 520mm (高) x 530mm (深)

CS-307: 測(cè)試臺(tái)L, 尺寸:  500mm (寬) x 520mm (高) x 520mm (深)

CS-307H: CS-5400測(cè)試臺(tái)L

CS-306: CS-3xxx和CS-5xxx探針臺(tái)連接線 ((除CS-5400外)

CS-308: CS-5400探針臺(tái)連接線

CS-501A: TO 類測(cè)試夾具

CS-502: Axial 類測(cè)試夾具

CS-503: TO-263-3 (D2PAK) 類測(cè)試夾具

CS-504: TO-252-3 類測(cè)試夾具

CS-505: TO-263-7 類測(cè)試夾具

CS-506: TO-252-5 類測(cè)試夾具

CS-507: SC-70-3/SOT-323-3 類測(cè)試夾具

CS-508: SMD 芯片類測(cè)試夾具

CS-509: SC-59A/SOT-23-3 類測(cè)試夾具

CS-510: SC-62/SOT-89 類測(cè)試夾具